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IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)成功交付到上海伯樂(lè)電子有限公司實(shí)驗(yàn)室

點(diǎn)擊次數(shù):2315 更新時(shí)間:2013-03-05

      熱烈慶祝上海衡翼精密儀器有限公司生產(chǎn)的HY(IC)IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)交付到上海伯樂(lè)電子有限公司使用。

      HY(IC)IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)技 術(shù) 參 數(shù):  
本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1,國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); *符合以上標(biāo)準(zhǔn)。
外形尺寸:L670 X W380 X H220
儀器重量:70kg
電 壓:AC220V±5%
功 率:35W
測(cè)試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測(cè)試周期:1~9999次 
扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°,總扭曲角度30°
長(zhǎng)邊zui大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
長(zhǎng)邊zui小位移量為2mm±0.50mm,
短邊zui大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
長(zhǎng)邊zui小位移量為1mm±0.50mm,
夾具安裝尺寸*按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。

3、產(chǎn)品用途:
    用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

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